脂質膜の可逆的な電気的破壊のメカニズムを研究しています。細孔発達過程の以下の段階が実証されています。脂質二重層に自発的な変動によって疎水性細孔が形成されます。これらの水で満たされた欠陥が半径0.3～0.5 nmに広がると、脂質分子の再配向によって親水性細孔が形成されます。このプロセスは、膜を挟む電位差によって促進されます。細孔の導電性は膜電圧に依存し、この依存性のタイプは細孔の半径に応じて変化します。有効半径0.6～1 nmを超える親水性細孔が形成され、これが観測される膜導電性の増加の原因となります。電圧パルス中および電圧パルス後の平均半径と細孔数の変化の特性時間を調査します。